Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур / А. И. Белоус [и др.]

Сохранено в:
Шифр документа: 1Н//308305(039), 1Н//367038(039),
Вид документа: Книги
Опубликовано: Гомель : ГГУ , 2011
Физические характеристики: 239 с. : ил., табл. ; 21 см
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
1Н//308305(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 15:1:5:44 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
1Н//367038(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 15:1:5:47 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал