Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур / А. И. Белоус [и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Гомель : ГГУ , 2011 |
| Физические характеристики: |
239 с. : ил., табл. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||