|
|
|
|
|
00000cam0a2200000 ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0000679020 |
| 005 |
20110705115123.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20110628d2011 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a m 000yy
|
| 109 |
# |
# |
$a ac
$a aa
|
| 200 |
1 |
# |
$a Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
$e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
$e 01.04.10
$f Сошников Александр Игоревич
$g [Национальный исследовательский технологический университет "Московский институт стали и сплавов"]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$d 2011
|
| 215 |
# |
# |
$a 30 с.
$c ил.
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 28—30 (14 назв.)
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2749267
$a ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2665900
$a НАНОСТРУКТУРЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar38854
$a ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar76888
$a СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2297519
$a ИНДЕНТОРЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2207
$a АЛМАЗЫ
$2 DVNLB
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.31
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.22
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.23
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.19
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 59.45
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 01.04.10
$2 oksvnk
|
| 700 |
# |
1 |
$a Сошников
$b А. И.
$g Александр Игоревич
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20110628
$g psbo
|
