Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: 01.04.10 / Сошников Александр Игоревич
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Сошников, А. И. |
| Опубликовано: | Москва , 2011 |
| Физические характеристики: |
30 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||