Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие для высших учебных заведений по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.

Сохранено в:
Шифр документа: 1//214524(039),
Вид документа: Книги
Опубликовано: Москва : Техносфера , 2009
Физические характеристики: 206 с. : ил., цв. ил. ; 22 см
Язык: Русский
Серия: Мир физики и техники II-15
Предмет:
00000cam0a2200000 ib4500
001 BY-NLB-br0000421887
005 20161117135211.0
010 # # $a 978-5-94836-200-7  $b в переплете 
100 # # $a 20091119d2009 f y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a j 000yy 
109 # # $a ga 
200 1 # $a Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения  $e учебное пособие для высших учебных заведений по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение"  $f М. М. Криштал [и др.  $g под общей редакцией М. М. Криштала] 
210 # # $a Москва  $c Техносфера  $d 2009 
215 # # $a 206 с.  $c ил., цв. ил.  $d 22 см 
225 1 # $a Мир физики и техники  $v II-15 
320 # # $a Библиография: с. 55―56 (10 назв.) 
345 # # $9 1500 экз. 
606 0 # $3 BY-NLB-ar39126  $a ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar76888  $a СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar52660  $a РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18308  $a МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar3336986  $a ПРОМЫШЛЕННОЕ ПРИМЕНЕНИЕ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2792381  $a ПРОИЗВОДСТВЕННО-КОНТРОЛЬНЫЕ ЛАБОРАТОРИИ  $2 DVNLB 
675 # # $a 621.385.833.28(075.8)  $v 4  $z rus 
675 # # $a 537.533.35(075.8)  $v 4  $z rus 
686 # # $a 29.31.29  $v 6  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.01.33  $v 6  $2 rugasnti 
686 # # $a 47.29  $v 6  $2 rugasnti 
686 # # $a 47.01.33  $v 6  $2 rugasnti 
701 # 1 $3 BY-SEK-557033  $a Криштал  $b М. М.  $g Михаил Михайлович  $c доктор физико-математических наук  $f род. 1969  $4 340 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20091119  $g psbo