Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие для высших учебных заведений по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал [и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Москва : Техносфера , 2009 |
| Физические характеристики: |
206 с. : ил., цв. ил. ; 22 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Мир физики и техники
II-15 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||