Моделирование процессов дефектообразования и профилей внедренной примеси в металлах и полупроводниках, облученных быстрыми ионами: автореферат диссертации на соискание академической степени доктора философии (Ph.D.) в области физики по специальности "радиационное материаловедение" / Тогамбаева Алтынай Какибаевна

Сохранено в:
Шифр документа: 2//66046(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Тогамбаева, А. К.
Опубликовано: Алматы , 2009
Физические характеристики: 36 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2//66046(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:87 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал