Моделирование процессов дефектообразования и профилей внедренной примеси в металлах и полупроводниках, облученных быстрыми ионами: автореферат диссертации на соискание академической степени доктора философии (Ph.D.) в области физики по специальности "радиационное материаловедение" / Тогамбаева Алтынай Какибаевна
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Тогамбаева, А. К. |
Опубликовано: | Алматы , 2009 |
Физические характеристики: |
36 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|