Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А. И. Белоус, А. В. Емельянов, Г. Г. Чигирь
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Белоус, А. И. (род. 1951) |
| Опубликовано: | Минск : Интегралполиграф , 2008 |
| Физические характеристики: |
206, [1] с. : ил., табл. ; 22 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||