Автоматический контроль топологии субмикронных планарных структур в производстве изделий микроэлектроники: диссертация на соискание ученой степени доктора технических наук: 05.27.06: защищена 03.04.08: утверждена 25.06.08 / Аваков Сергей Мирзоевич

Сохранено в:
Шифр документа: 26Н//1250(039), #32Н//45773CD(055),
Вид документа: Диссертации
Автор: Аваков, С. М. (род. 1955)
Опубликовано: Минск , 2007
Физические характеристики: 301 л. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
Е-документ: E-документ

Зал диссертаций

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно Без заказа

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
26Н//1250(039) Зал диссертаций (020) 02 СВОБОДЕН БЕЗ ПРЕДВАРИТЕЛЬНОГО ЗАКАЗА