Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Дж. Б. Рид
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Рид, С. Дж. Б. |
Опубликовано: | Москва : Техносфера , 2008 |
Физические характеристики: |
229 с., [4] л. цв. ил. : ил., табл., цв. ил. ; 25 см
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Мир наук о земле
V-02 |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|