Автоматический контроль топологии субмикронных планарных структур в производстве изделий микроэлектроники: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук: 05.27.06 / Аваков Сергей Мирзоевич

Сохранено в:
Шифр документа: 2Н//32670(039), 2Н//32671(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Аваков, С. М. (род. 1955)
Опубликовано: Минск , 2007
Физические характеристики: 42 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
Е-документ: E-документ

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2Н//32670(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:86 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
2Н//32671(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:86 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал