Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: 01.04.07 / Швамм Константин Леович

Сохранено в:
Шифр документа: 2//29041(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Швамм, К. Л.
Опубликовано: Екатеринбург , 2007
Физические характеристики: 22 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a2200000 ia4500
001 BY-NLB-br0000122460
005 20170428121446.0
100 # # $a 20071207d2007 k y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a m 000yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов  $e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук  $e 01.04.07  $f Швамм Константин Леович  $g [Уральский государственный экономический университет] 
210 # # $a Екатеринбург  $d 2007 
215 # # $a 22 с.  $c ил. 
320 # # $a Библиография: с. 19-22 
606 0 # $3 BY-NLB-ar34161  $a ТОНКИЕ ПЛЕНКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar36693  $a ХАЛЬКОГЕНИДЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2448302  $a ОКСИДЫ МЕТАЛЛОВ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar71987  $a НАНОКРИСТАЛЛЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar15218  $a КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ РЕШЕТКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar87382  $a ДЕФЕКТЫ В КРИСТАЛЛАХ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar83953  $a КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ  $2 DVNLB 
686 # # $a 29.19.11  $v 5  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.16  $v 5  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.22  $v 5  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.03  $v 5  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Швамм  $b К. Л.  $g Константин Леович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071207  $g psbo