Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: 01.04.07 / Швамм Константин Леович
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Швамм, К. Л. |
Опубликовано: | Екатеринбург , 2007 |
Физические характеристики: |
22 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|