Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: 05.11.07 / Белехов Ярослав Сергеевич
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Белехов, Я. С. |
| Опубликовано: | Великий Новгород , 2007 |
| Физические характеристики: |
28 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||