Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / Минсон Чэнь [и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Москва : Техносфера , 2014 |
| Физические характеристики: |
294 с. : ил., табл. ; 25 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Мир радиоэлектроники
XVII ― 22 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||