Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение / [Р. Андерхальт и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний , печ. 2012 (макет 2013) |
| Физические характеристики: |
582 с., [8] л. цв. ил. : ил., схемы, табл. ; 25 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||