Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Альфорд, Т. Л. |
| Опубликовано: | Москва : Научный мир , 2012 |
| Физические характеристики: |
390 с. : ил., табл., схемы ; 25 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Фундаментальные основы нанотехнологий
|
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||