Электронно-ионные переходные процессы в приграничных слоях систем Si-SiO2 и развитие методов диагностики МДП-структур: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: (01.04.10) / Ленингр. политехн. ин-т им. М. И. Калинина
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Аўтар: | Сёмушкин, Г. Б. |
| Апублікавана: | Л. , 1990 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
32 с.
|
| Мова: | Руская |
ОФХ отдела книгохранения
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||