Метрология, стандартизация и измерительная техника: Раздел : Контроль качества изделий микроэлектроники : Курс лекций для студентов специальности 20.03 / Московский ин-т стали и сплавов, Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| Wydane: | Москва , 1989 |
| Opis fizyczny: |
69 с.
|
| Język: | Русский |
| Hasła przedmiotowe: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||