Метрология, стандартизация и измерительная техника: Раздел : Контроль качества изделий микроэлектроники : Курс лекций для студентов специальности 20.03 / Московский ин-т стали и сплавов, Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников
Saved in:
| Format: | |
|---|---|
| Published: | Москва , 1989 |
| Physical Description: |
69 с.
|
| Language: | Russian |
| Subjects: |
ОФХ отдела книгохранения
| All : 1 , available: 1 | Available Place a Hold | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||