Исследование особенностей имплантационных профилей методом ионного микроанализа: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Тбил. гос. ун-т
Guardado en:
| Formato: | |
|---|---|
| Autor principal: | Шимко, Р. |
| Publicado: | Тбилиси : Изд-во Тбил. ун-та , 1975 |
| Descripción Física: |
23 с.
|
| Lenguaje: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Hacer reserva | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||