Исследование особенностей имплантационных профилей методом ионного микроанализа: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Тбил. гос. ун-т
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| 1. autor: | Шимко, Р. |
| Wydane: | Тбилиси : Изд-во Тбил. ун-та , 1975 |
| Opis fizyczny: |
23 с.
|
| Język: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||