Методы оптико-электронной регистрации критических размеров субмикронных планарных структур изделий микроэлектроники: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: специальность 05.27.06 Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники / Трапашко Георгий Алексеевич

Захавана ў:
Шифр документа: 2Н//182011(039), 2Н//182611(039),
Тып дакумента: Аўтарэфераты дысертацый
Аўтар: Трапашко, Г. А.
Апублікавана: Минск , 2014
Фізіч. характарыстыкі: 21 с. : ил.
Мова: Руская
Беларуская
Англійская
Прадмет:
Е-дакумент: E-дакумент

ОФХ отдела книгохранения

Усяго : 2 , даступна: 2 Даступна  Замовіць

Інфармацыя аб экземплярах

Шыфр Фонд Месца знаходжання статус экзэмпляра Чытальная зала
2Н//182011(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:92 СВАБОДНЫ Рекомендованный ЧитЗал
2Н//182611(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:92 СВАБОДНЫ Рекомендованный ЧитЗал