Отображение 1 - 2 из 2 для поиска: 'Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур', время запроса: 1.64сек.
  1. 1
    Автор Емельянов, А. В.
    Предмет: '; “...СУБМИКРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ...”
    E-документ
    Авторефераты диссертаций
    Добавить в Избранное
    Сохранено в:
  2. 2
    Автор Емельянов, А. В.
    Предмет: '; “...СУБМИКРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ...”
    E-документ
    Диссертации
    Добавить в Избранное
    Сохранено в:
Инструменты поиска: RSS-поток – Отправить результаты поиска по Email – Сохранить запрос