Развитие вторично-эмиссионной масс-спектрометрии для анализа полимерных композиционных материалов [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 03.05.89: (01.04.19)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Яблоков, М. Ю. |
| Опубликовано: | М. , 1988 |
| Физические характеристики: |
129 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nbm0a22000001id4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr41998220000 | ||
| 005 | 20080219125720.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20080219d1988 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Развитие вторично-эмиссионной масс-спектрометрии для анализа полимерных композиционных материалов $b [Микроформа] $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук $e Утв. 03.05.89 $e (01.04.19) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1988 |
| 215 | # | # | $a 129 с. $c ил. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 114-129 |
| 686 | # | # | $a 01.04.19 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Яблоков $b М. Ю. $g Михаил Юрьевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20080219 $g psbo |