Электронная плотность и свойства кристаллов по рентгеновским дифракционным данным [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: Утв. 03.11.89: (01.04.17)

Сохранено в:
Шифр документа: 0589001238,
Вид документа: Диссертации
Автор: Цирельсон, В. Г.
Опубликовано: М. , 1988
Физические характеристики: 443 с. : ил.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
0589001238 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:6:202 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал