Электронная плотность и свойства кристаллов по рентгеновским дифракционным данным [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: Утв. 03.11.89: (01.04.17)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Цирельсон, В. Г. |
| Опубликовано: | М. , 1988 |
| Физические характеристики: |
443 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nbm0a22000001id4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr41919360000 | ||
| 005 | 20080219121348.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20080219d1988 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Электронная плотность и свойства кристаллов по рентгеновским дифракционным данным $b [Микроформа] $e Дис. ... д-ра физ.-мат. наук $e Утв. 03.11.89 $e (01.04.17) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1988 |
| 215 | # | # | $a 443 с. $c ил. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 390-443 |
| 686 | # | # | $a 01.04.17 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Цирельсон $b В. Г. $g Владимир Григорьевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20080219 $g psbo |