Развитие метода эллипсометрии применительно к исследованию оптических свойств одноосных кристаллов [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 12.04.89: (01.04.05)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Хасанов, Т. |
| Опубликовано: | Новосибирск , 1988 |
| Физические характеристики: |
138 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nbm0a22000001id4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr41900180000 | ||
| 005 | 20080219121201.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20080219d1988 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Развитие метода эллипсометрии применительно к исследованию оптических свойств одноосных кристаллов $b [Микроформа] $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук $e Утв. 12.04.89 $e (01.04.05) |
| 210 | # | # | $a Новосибирск $d 1988 |
| 215 | # | # | $a 138 с. $c ил. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 122-138 |
| 686 | # | # | $a 01.04.05 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Хасанов $b Т. $g Тохир |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20080219 $g psbo |