Неэмпирические методы в теории точечных радиационных дефектов в кристаллических полупроводниках [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: Утв. 20.01.89: (01.04.10)

Сохранено в:
Шифр документа: 0588001254,
Вид документа: Диссертации
Автор: Тележкин, В. А.
Опубликовано: Донецк , 1987
Физические характеристики: 266 с. : ил.
Язык: Русский
00000nbm0a22000001id4500
001 BY-NLB-rr41828720000
005 20080219134528.0
100 # # $a 20080219d1987 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Неэмпирические методы в теории точечных радиационных дефектов в кристаллических полупроводниках  $b [Микроформа]  $e Дис. ... д-ра физ.-мат. наук  $e Утв. 20.01.89  $e (01.04.10) 
210 # # $a Донецк  $d 1987 
215 # # $a 266 с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 243-266 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Тележкин  $b В. А.  $g Вениамин Александрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080219  $g psbo