Электрофизические свойства барьерных структур на основе кремния, изготовленных с использованием аморфных и поликристаллических металлических слоев [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: (01.04.10)

Сохранено в:
Шифр документа: 04900018625,
Вид документа: Диссертации
Автор: Пашаев, И. Г.
Опубликовано: Баку , 1990
Физические характеристики: 142 с.
Язык: Русский
00000nbm0a22000001id4500
001 BY-NLB-rr41635100000
005 20080219130445.0
100 # # $a 20080219d1990 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a AZ 
200 1 # $a Электрофизические свойства барьерных структур на основе кремния, изготовленных с использованием аморфных и поликристаллических металлических слоев  $b [Микроформа]  $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.10) 
210 # # $a Баку  $d 1990 
215 # # $a 142 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 131-142. - Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Пашаев  $b И. Г.  $g Ислам Герой оглы 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080219  $g psbo