Колориметрический контроль параметров тонких пленок в производстве интегральных схем [[Микроформа]]: Дис. ... канд. техн. наук: Утв. 20.06.90: (05.11.13)

Сохранено в:
Шифр документа: 0490002395,
Вид документа: Диссертации
Автор: Мухамедханов, У. Т.
Опубликовано: Ташкент , 1989
Физические характеристики: 195 с. : ил.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
0490002395 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:6:202 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал