Анализ концентрационных неоднородностей сложнолегированных промышленных материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии [[Микроформа]]: Дис. ... канд. техн. наук: Утв. 04.11.87: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Жуков, А. Г. |
| Опубликовано: | Саратов , 1986 |
| Физические характеристики: |
175 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||