Методы и средства радиоволнового-импедансного технологического контроля качества полупроводниковых-тонкопленочных структур устройств радиотехники и средств связи [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра техн. наук: (05.12.13)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Григулис, Ю. К. |
| Опубликовано: | Рига , 1990 |
| Физические характеристики: |
462 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nbm0a22000001id4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr41163750000 | ||
| 005 | 20080219140442.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20080219d1990 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a LV |
| 200 | 1 | # | $a Методы и средства радиоволнового-импедансного технологического контроля качества полупроводниковых-тонкопленочных структур устройств радиотехники и средств связи $b [Микроформа] $e Дис. ... д-ра техн. наук $e (05.12.13) |
| 210 | # | # | $a Рига $d 1990 |
| 215 | # | # | $a 462 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 397-437 |
| 686 | # | # | $a 05.12.13 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Григулис $b Ю. К. $g Юрис Карлович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20080219 $g psbo |