Электрофизические свойства имплантированных структур со скрытыми дефектными слоями [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 04.11.87: (01.04.10)

Сохранено в:
Шифр документа: 04870010370,
Вид документа: Диссертации
Автор: Гелашвили, Н. А.
Опубликовано: Киев , 1986
Физические характеристики: 178 с. : ил.
Язык: Русский
00000nbm0a22000001id4500
001 BY-NLB-rr41131840000
005 20080219140144.0
100 # # $a 20080219d1986 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Электрофизические свойства имплантированных структур со скрытыми дефектными слоями  $b [Микроформа]  $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук  $e Утв. 04.11.87  $e (01.04.10) 
210 # # $a Киев  $d 1986 
215 # # $a 178 с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 160-178 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Гелашвили  $b Н. А.  $g Нодари Александрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080219  $g psbo