Рефлектометрический метод производственного контроля параметров микрогеометрии поверхности [[Микроформа]]: Дис. ... канд. техн. наук: Утв. 17.10.90: (05.02.11)

Сохранено в:
Шифр документа: 0490009320,
Вид документа: Диссертации
Автор: Габдушева, Г. К.
Опубликовано: Л. , 1989
Физические характеристики: 235 с. : ил.
Язык: Русский
00000cbm0a22000001id4500
001 BY-NLB-rr41114410000
005 20100722100505.0
100 # # $a 20080219d1989 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Рефлектометрический метод производственного контроля параметров микрогеометрии поверхности  $b [Микроформа]  $e Дис. ... канд. техн. наук  $e Утв. 17.10.90  $e (05.02.11) 
210 # # $a Л.  $d 1989 
215 # # $a 235 с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 214-221 
686 # # $a 05.02.11  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Габдушева  $b Г. К.  $g Гульнара Касымхановна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080219  $g psbo