Оценивание характеристик второго порядка случайных процессов, измеряемых в случайные моменты времени [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 11.05.88: (05.13.16)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Высоцкий, В. И. |
Опубликовано: | Томск , 1987 |
Физические характеристики: |
166 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|