Оценивание характеристик второго порядка случайных процессов, измеряемых в случайные моменты времени [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 11.05.88: (05.13.16)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Высоцкий, В. И. |
| Опубликовано: | Томск , 1987 |
| Физические характеристики: |
166 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nbm0a22000001id4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr41113210000 | ||
| 005 | 20080219135848.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20080219d1987 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Оценивание характеристик второго порядка случайных процессов, измеряемых в случайные моменты времени $b [Микроформа] $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук $e Утв. 11.05.88 $e (05.13.16) |
| 210 | # | # | $a Томск $d 1987 |
| 215 | # | # | $a 166 с. $c ил. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 157-164 |
| 686 | # | # | $a 05.13.16 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Высоцкий $b В. И. $g Виталий Исакиевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20080219 $g psbo |