Прецизионное рентгенодифракционное исследование электронной плотности в кристаллах CdCr₂Se₄ и CdCr₂S₄ [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: (01.04.18)

Сохранено в:
Шифр документа: 04890013904,
Вид документа: Диссертации
Автор: Боровская, Т. Н.
Опубликовано: М. , 1989
Физические характеристики: 102 с.
Язык: Русский
00000nbm0a22000001id4500
001 BY-NLB-rr41055350000
005 20080219124024.0
100 # # $a 20080219d1989 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Прецизионное рентгенодифракционное исследование электронной плотности в кристаллах CdCr₂Se₄ и CdCr₂S₄  $b [Микроформа]  $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.18) 
210 # # $a М.  $d 1989 
215 # # $a 102 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 92-102 
686 # # $a 01.04.18  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Боровская  $b Т. Н.  $g Татьяна Николаевна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080219  $g psbo