Исследование состояния и локализация примесных атомов в кристаллической решетке монокристаллов Ma, W и Si методами ионной и электронной оже-спектроскопии [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: (01.04.04)

Сохранено в:
Шифр документа: 0489009430,
Вид документа: Диссертации
Автор: Ахраров, С. К.
Опубликовано: Ташкент , 1989
Физические характеристики: 188 с.
Язык: Русский
00000nbm0a22000001id4500
001 BY-NLB-rr40994810000
005 20080219130837.0
100 # # $a 20080219d1989 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UZ 
200 1 # $a Исследование состояния и локализация примесных атомов в кристаллической решетке монокристаллов Ma, W и Si методами ионной и электронной оже-спектроскопии  $b [Микроформа]  $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.04) 
210 # # $a Ташкент  $d 1989 
215 # # $a 188 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 168-186 
686 # # $a 01.04.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Ахраров  $b С. К.  $g Субхон Курбанович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080219  $g psbo