Эллипсометрия - метод исследования поверхности: [Сб. ст.] / АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1983 |
| Физические характеристики: |
179 с. : ил. ; 26 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||