|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr40051300000 |
005 |
20180207092735.0 |
010 |
# |
# |
$d Б. ц.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [87-43130]
|
100 |
# |
# |
$a 20080111d1987 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Тезисы докладов IV всесоюзного научно-технического семинара «Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем», Рязань, 16-18 июня 1987 г.
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c [Б. и.]
$d 1987
|
215 |
# |
# |
$a 176 с.
$c ил.
$d 20 см
|
300 |
# |
# |
$a Загл. обл.: Пути повышения стабильности... - В надзаг.: Центр. правл. НТО приборостроит. пром-сти им. С. И. Вавилова
|
345 |
# |
# |
$9 260 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы интегральные - Надежность - Тезисы докладов
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.019.3(043.2)
|
710 |
0 |
2 |
$a «Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем», всесоюзный науч.-техн. семинар (4; 1987; Рязань)
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20080111
$g psbo
|