IV совещание "Дефекты структуры в полупроводниках", 23-25 октября 1984 г. : Тез. докл.. Ч. 2
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1984 |
| Физические характеристики: |
142 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||