Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Рос. науч. центр "Курчатов. ин-т"
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Галкин, И. М. |
Опубликовано: | М. , 1992 |
Физические характеристики: |
20, [1] с. : ил.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|