Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Рос. науч. центр "Курчатов. ин-т"
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Галкин, И. М. |
Опубликовано: | М. , 1992 |
Физические характеристики: |
20, [1] с. : ил.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr39282420000 | ||
005 | 20071023160720.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [92-6428а] |
100 | # | # | $a 20071023d1992 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции $e (01.04.10) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $f Рос. науч. центр "Курчатов. ин-т" |
210 | # | # | $a М. $d 1992 |
215 | # | # | $a 20, [1] с. $c ил. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 20 |
686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Галкин $b И. М. $g Игорь Михайлович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071023 $g psbo |