Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Рос. науч. центр "Курчатов. ин-т"

Сохранено в:
Шифр документа: 156706/92,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Галкин, И. М.
Опубликовано: М. , 1992
Физические характеристики: 20, [1] с. : ил.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr39282420000
005 20071023160720.0
021 # # $a RU  $b [92-6428а] 
100 # # $a 20071023d1992 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f Рос. науч. центр "Курчатов. ин-т" 
210 # # $a М.  $d 1992 
215 # # $a 20, [1] с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 20 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Галкин  $b И. М.  $g Игорь Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071023  $g psbo