Методы измерений электрофизических параметров полупроводников: Учеб. пособие / Моск. ин-т электрон. машиностроения

Сохранено в:
Шифр документа: 407229,
Вид документа: Книги
Автор: Вильф, Ф. Ж.
Опубликовано: М. , 1990
Физические характеристики: 144 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr38709570000
005 20190426153214.0
010 # # $d 30 к. 
021 # # $a RU  $b [91-20411] 
100 # # $a 20071022d1990 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы измерений электрофизических параметров полупроводников  $e Учеб. пособие  $f Моск. ин-т электрон. машиностроения 
210 # # $a М.  $d 1990 
215 # # $a 144 с.  $c ил. 
345 # # $9 150 экз. 
610 0 # $a МДП-структуры 
610 0 # $a Полупроводники - Учебники 
675 # # $a 621.315.592.08(075.8) 
700 # 1 $a Вильф  $b Ф. Ж.  $g Фернандо Жозевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071022  $g psbo