Методы измерений электрофизических параметров полупроводников: Учеб. пособие / Моск. ин-т электрон. машиностроения
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Вильф, Ф. Ж. |
Опубликовано: | М. , 1990 |
Физические характеристики: |
144 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
00000cam0a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr38709570000 | ||
005 | 20190426153214.0 | ||
010 | # | # | $d 30 к. |
021 | # | # | $a RU $b [91-20411] |
100 | # | # | $a 20071022d1990 y0rusy50 ||||ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Методы измерений электрофизических параметров полупроводников $e Учеб. пособие $f Моск. ин-т электрон. машиностроения |
210 | # | # | $a М. $d 1990 |
215 | # | # | $a 144 с. $c ил. |
345 | # | # | $9 150 экз. |
610 | 0 | # | $a МДП-структуры |
610 | 0 | # | $a Полупроводники - Учебники |
675 | # | # | $a 621.315.592.08(075.8) |
700 | # | 1 | $a Вильф $b Ф. Ж. $g Фернандо Жозевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071022 $g psbo |