Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок / Б. Н. Васичев

Сохранено в:
Шифр документа: АН980502, АУ549713,
Вид документа: Книги
Автор: Васичев, Б. Н.
Опубликовано: М. : Металлургия , 1977
Физические характеристики: 239 с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr38493620000
005 20071022182943.0
010 # # $d 73 к. 
021 # # $a RU  $b [77-44134] 
100 # # $a 20071022d1977 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок  $f Б. Н. Васичев 
210 # # $a М.  $c Металлургия  $d 1977 
215 # # $a 239 с.  $c ил.  $d 20 см 
300 # # $a Список лит.: с. 236-239 (109 назв.) 
345 # # $9 3200 экз. 
610 0 # $a Пленки тонкие - Рентгеноспектралькый анализ 
675 # # $a 621.382.049.772.1:620.187 
700 # 1 $a Васичев  $b Б. Н.  $g Борис Никитович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071022  $g psbo