Анализ пленок Nb+Sn методом обратного рассеяния

Сохранено в:
Шифр документа: ДХМ188232,
Вид документа: Книги
Автор: Вавра, И.
Опубликовано: Дубна : ОИЯИ , 1981
Физические характеристики: 7 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Препринт 14-81-841
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr38297520000
005 20071004161856.0
010 # # $d Б. ц. 
021 # # $a RU  $b [82-27408] 
100 # # $a 20071004d1981 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Анализ пленок Nb+Sn методом обратного рассеяния 
210 # # $a Дубна  $c ОИЯИ  $d 1981 
215 # # $a 7 с.  $c ил.  $d 21 см 
225 2 # $a Препринт  $f Объед. ин-т ядер. исслед.  $v 14-81-841 
345 # # $9 315 экз. 
610 0 # $a Ниобий-оловянные сплавы - Сверхпроводящие свойства 
610 0 # $a Сверхпроводники - Исследование 
675 # # $a 538.945 
700 # 1 $a Вавра  $b И. 
701 # 1 $a Скрыпник  $b А. В. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071004  $g psbo