Разработка и исследование методики измерения параметров микрогеометрии композиционных поверхностей: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.15) / ВНИИ метрол. службы

Сохранено в:
Шифр документа: 164237/90,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Быков, А. М.
Опубликовано: М. , 1990
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr38247500000
005 20071004155529.0
100 # # $a 20071004d1990 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Разработка и исследование методики измерения параметров микрогеометрии композиционных поверхностей  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.11.15)  $f ВНИИ метрол. службы 
210 # # $a М.  $d 1990 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 17-18 (7 назв.) 
686 # # $a 05.11.15  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Быков  $b А. М.  $g Андрей Маркович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071004  $g psbo