|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr38208900000 |
| 005 |
20201228153330.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 28 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [89-42940]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071004d1989 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Методы исследования и контроля чистоты поверхности материалов электронной техники
$e Учеб. пособие
$f А. И. Бутурлин, И. Э. Голубская, Ю. Д. Чистяков
$g Моск. ин-т электрон. техники
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$d 1989
|
| 215 |
# |
# |
$a 91 с.
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 90 (6 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 200 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Электронные приборы - Материалы
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.38.002.3(075.8)
|
| 700 |
# |
1 |
$a Бутурлин
$b А. И.
$g Анатолий Иванович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071004
$g psbo
|
