Методы исследования материалов и компонентов электронной техники: учебное пособие для практических занятий студентам спец. 20.02 / Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения и полупроводников

Сохранено в:
Шифр документа: 429753,
Вид документа: Книги
Автор: Бублик, В. Т.
Опубликовано: М. , 1991
Физические характеристики: 157 с. : ил., табл.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr38016390000
005 20171017132321.0
010 # # $d 80 к. 
021 # # $a RU  $b [92-8392] 
100 # # $a 20070831d1991 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы исследования материалов и компонентов электронной техники  $e учебное пособие для практических занятий студентам спец. 20.02  $f Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения и полупроводников 
210 # # $a М.  $d 1991 
215 # # $a 157 с.  $c ил., табл. 
300 # # $a Авторы указаны на обложке 
300 # # $a Библиография: с. 157 (10 назв.) 
345 # # $9 400 экз. 
610 0 # $a Кристаллография - Учебники 
610 0 # $a Электронные приборы - Материалы 
675 # # $a 621.38.002.3+548](075.8) 
700 # 1 $a Бублик  $b В. Т.  $g Владимир Тимофеевич 
701 # 1 $a Дубровина  $b А. Н.  $g Аида Николаевна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070831  $g psbo