Прецизионное рентгенодифракционное исследование электронной плотности в кристаллах CdCr2Se4 и CdCr2S4: (01.04.18): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / АН МССР, Ин-т прикл. физики

Сохранено в:
Шифр документа: 103037/89,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Боровская, Т. Н.
Опубликовано: Кишинев , 1989
Физические характеристики: 17 с. : ил.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr37815590000
005 20231129151822.0
021 # # $a RU  $b [89-11971а] 
100 # # $a 20070831d1989 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a MD 
200 1 # $a Прецизионное рентгенодифракционное исследование электронной плотности в кристаллах CdCr2Se4 и CdCr2S4  $e (01.04.18)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f АН МССР, Ин-т прикл. физики 
210 # # $a Кишинев  $d 1989 
215 # # $a 17 с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 16-17 (5 назв.) 
686 # # $a 01.04.18  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Боровская  $b Т. Н.  $g Татьяна Николаевна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070831  $g psbo